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賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160ERSeries簡介:
1.X-RAYINSPECT*TEM:
搭載Micro-focusOpenTube(160kV)和FlatPanelDetector,可獲取高清晰,高倍率圖像,可靈活應用在分析及工藝流程檢中的缺陷檢查。此外,通過特別的減震機構,可穩定且快速的分析不良產品。可穩定的實現2.5DTilt檢測,也可以根據用戶及各種Application選擇不同Option。
2.X-raySimple&Easy2.5D:
1)Max可實現900x900mm的Tablesize,可檢測大型PCB和LED。
2)通過采用雙臂支撐的Z軸結構方式,可輕松解決震動引起的圖像殘影問題。
3)Detector傾斜角度最大可達70°,可通過Rotation軸輕松獲取2.5D圖像。
4)通過DetectorR軸結構的改善增加了檢測區域及機構的穩定性。
賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160ERSeries等,歡迎咨詢上海賽可,我們為您提供的參數、價格、型號、原理等信息,160ERSeries產地為韓國、品牌為賽可,歡迎大家咨詢。
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