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五軸全自動樣品臺:
優于5um的高精密全自動樣品臺,實現迅速位移并精準的找到樣品位置。
小巧而精致的設計,進一步提高空間使用率
NEW第三代Nano-eye
超大視野拼圖功能:
3D粗糙度分析
EDS(EnergyDispersiveX-raySpectrometer)是一種安裝在SEM(電子顯微鏡)上的分析樣品表面成分的裝置。
利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上,接收不同元素在電子束作用后所產生的特征X射線信號進行定性和定量分析。
Features:
硅漂移探測器(SDD)
30mm2有效面積
超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),
能量分辨率MnKα≤129eV
帕爾貼制冷,無需液氮或其他冷卻劑
簡便的操作軟件,快速實現對材料的微區化學成分分析
主要功能:定性·定量分析,MappingLineScan,Report等
賽可SNE全自動臺式掃描電鏡規格:
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型號:賽可SNE
型號:賽可SNE
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